魯大師2015是怎么測試內(nèi)存的 魯大師存儲核心算法詳解

關(guān)于存儲也是手機(jī)平板中很重要的一項內(nèi)容，存儲硬件的好壞，也影響的電腦的整體運算速度。因為存儲的讀寫速度也是很重要的。那么怎么知道自己的存儲硬件是不是優(yōu)秀的呢？其實可以用魯大師來測試的，究竟魯大師測試的原理和參數(shù)是什么？接下來，小編給大家介紹一下。

魯大師2015是怎么測試內(nèi)存的 魯大師存儲核心算法詳解

　　RAM測試：
　　我們先來介紹一下魯大師的RAM測試?yán)砟�，前面介紹的了很多關(guān)于RAM 的概念，就是想要說明魯大師的RAM評分體系并不是單純的讓內(nèi)存運行特定指令來計數(shù)，魯大師的RAM評測將大小和速度這兩個概念分開了。RAM大小+RAM的交換速度就是RAM的得分思路。
　　RAM大小評分：內(nèi)部數(shù)據(jù)檢測到個位數(shù)，依據(jù)1GB=1024MB的計數(shù)進(jìn)行檢測給分，容量越大得分越高。
　　RAM的運行速度，RAM 的概念與ROM的讀寫概念不一樣，因為它斷電數(shù)據(jù)就會丟失，所以沒有讀寫這一說，RAM 的速度和位寬就是一個速度的感覺。所以魯大師的測試將進(jìn)行常見賦值算法，根據(jù)單位時間內(nèi)完成的賦值運算次數(shù)得到RAM性能得分。
　　FLASH閃存測試：
　　FLASH閃存的測試我們是沒有大小概念的，魯大師認(rèn)為FLASH閃存大小和擴(kuò)展TF卡的大小是同一個概念。因為目前手機(jī)并不類同，有不少手機(jī)能夠支持?jǐn)U展卡，所以其擴(kuò)展的大小分?jǐn)?shù)相對來說是無限大的，內(nèi)存大小的評分對于用戶的使用參考沒有價值。所以魯大師的FLASH閃存測試主要是針對速度進(jìn)行的，通過bonnie++算法測試內(nèi)置、外置存儲卡的讀寫速率。
　　數(shù)據(jù)庫測試：
　　數(shù)據(jù)庫測試這個概念并不是針對某一個硬件進(jìn)行的，所謂數(shù)據(jù)庫效率，就是存儲數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)優(yōu)劣，數(shù)據(jù)表及其數(shù)據(jù)調(diào)用效率。比如我們經(jīng)常做的數(shù)據(jù)存儲、數(shù)據(jù)加載、數(shù)據(jù)刪除這些操作都是針對數(shù)據(jù)調(diào)用的，數(shù)據(jù)庫測試就是檢測數(shù)據(jù)運轉(zhuǎn)的效率，與硬件的性能相關(guān)，同時也與手機(jī)系統(tǒng)底層結(jié)構(gòu)有關(guān)系，是一個整體的數(shù)據(jù)性能概念。
　　魯大師的數(shù)據(jù)庫測試是計算完成指定個數(shù)的SQlite數(shù)據(jù)庫的insert、update、select操作指令完成的時間，根據(jù)時間長短換算數(shù)據(jù)庫性能得分。作為一個開源的嵌入式數(shù)據(jù)庫產(chǎn)品，SQLite具有系統(tǒng)開銷小，檢索效率高的特性，一般移動的平臺如iphone, android都是使用SQLite數(shù)據(jù)庫