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SDY-4四探針測(cè)試儀技術(shù)說(shuō)明書(shū)，一份完整的pdf格式的數(shù)字型四探針測(cè)試儀技術(shù)說(shuō)明書(shū)，對(duì)這款型號(hào)的測(cè)試儀的規(guī)格參數(shù)進(jìn)行了說(shuō)明，還有相應(yīng)的技術(shù)指標(biāo)、測(cè)量原理、儀器面板、使用方法、高阻、低阻測(cè)量、維修的要點(diǎn)等方面的內(nèi)容，很實(shí)用，歡迎有需要的朋友前來(lái)東坡下載使用。

SDY-4四探針測(cè)試儀介紹

SDY-4型四探針測(cè)試儀是根據(jù)單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測(cè)試專用儀器.

儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,采用平面輕觸式開(kāi)關(guān)控制,及各種工作狀態(tài)LED指示.應(yīng)用微計(jì)算機(jī)技術(shù)，利用HQ-710E型測(cè)量數(shù)據(jù)處理器，使得測(cè)量讀數(shù)更加直觀、快速，并能實(shí)現(xiàn)晶片厚度自行修正，打印出全部預(yù)置和測(cè)量、計(jì)算數(shù)據(jù)。整套儀器體積小、功耗低、測(cè)量精度高、測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。

SDY4四探針測(cè)試儀本儀器可滿足半導(dǎo)體材料、器件的研究生產(chǎn)單位對(duì)材料(棒材、片材)電阻率及擴(kuò)散層、離子注入層、異型外延層和導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)量的需要。