Ram Stress Test(RST)是一個(gè)維修級(jí)內(nèi)存檢測(cè)工具,能夠檢測(cè)內(nèi)存有哪一塊顆粒損壞,PCB板有沒有短路或虛焊;Ram Stress Test 能檢測(cè)SD內(nèi)存,也能檢測(cè)DDR內(nèi)存,是專業(yè)的內(nèi)存維修工具,完全可以取代昂貴的內(nèi)存檢測(cè)卡。
軟件通過光盤啟動(dòng),不依賴任何操作系統(tǒng),只要BIOS能識(shí)別的內(nèi)存它都能檢測(cè);具體操作請(qǐng)參閱包內(nèi)的操作說明,包內(nèi)軟件是用Nero燒錄可啟動(dòng)光盤的軟盤鏡像文件。
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